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簡要描述：SCI-302型顯微光學(xué)影像系統(tǒng)將傳統(tǒng)的測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將顆粒在顯微鏡下的圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析，具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點。可以觀察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果。
產(chǎn)品型號：SCI-302廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2023-10-21訪 問 量：1916產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)林牧漁,石油,綜合 |
儀器簡介:
SCI-302型顯微光學(xué)影像系統(tǒng)將傳統(tǒng)的測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將顆粒在顯微鏡下的圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析，具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點。可以觀察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果。
SCI-302型顯微光學(xué)影像系統(tǒng)融合了當今*的圖像處理和分析技術(shù)，產(chǎn)品設(shè)計符合國際標準ISO-13322-1，可完成幾十項顆粒幾何形態(tài)學(xué)的參數(shù)測量和圖像幾何形狀的測量。軟件同時配備專用的數(shù)據(jù)報表，可直接按顆粒的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。
技術(shù)參數(shù)：
1.量程范圍：1～3000μm；
2.最大光學(xué)放大倍數(shù)：1600倍。
3.顯微鏡：光學(xué)顯微鏡
4.最大分辨率：0.1μm/像素；
5.準確性及重復(fù)性誤差：＜3%；
6.數(shù)字攝像機（CCD）：500萬像素；
7.自動分割速度：≤1秒；
8.分割成功率：≥97%；
配置參數(shù)：
三目生物顯微鏡：平場目鏡：10X、16X
消色差物鏡：4X、10X、40X、100X （油）
總放大倍數(shù)：40X-1600X
應(yīng)用范圍：
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析
軟件功能及報告格式：
1、 可以對圖像進行多種處理。如：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能
2、 具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量
3、 可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性方式繪出分布圖
數(shù)據(jù)輸出：
周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當徑分布、面積相當徑分布、Feret徑分布、中間徑（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60）、D30、D97、個數(shù)長度平均徑、個數(shù)面積平均徑、個數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。
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